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2002, vol.69, no.1	2002, vol.69, no.10	2002, vol.69, no.11	2002, vol.69, no.12	2002, vol.69, no.2	2002, vol.69, no.3
2002, vol.69, no.4	2002, vol.69, no.5	2002, vol.69, no.6	2002, vol.69, no.7-8	2002, vol.69, no.9

题名	作者	出版年	年卷期
Dimensionelle Metrologie an mikrostrukturierten Langenmassverkorperungen - Beitrage der PTB	Harald Bosse; Jens Flugge; Wolfgang Hassler-Grohne; Klaus Wendt	2002	2002, vol.69, no.12
Hochprazise Messungen an photoelektrischen Langenmessgeraten mit einem 120-mm-Abbe-Komparator	Werner Israel	2002	2002, vol.69, no.12
Dimensionelle Metrologie mittels Rastersondenmikroskopie	Konrad Herrmann; Ludger Koenders; Hans-Ulrich Danzebrink; Klaus Hasche; Gunter Wilkening; Frank Pohlenz; Ulrich Kuetgens; Werner Mirande; Andrew Yacoot	2002	2002, vol.69, no.12
Ultraprazise oberflachenbearbeitung am beispiel von lithografieoptiken	Klaus F. Beckstette	2002	2002, vol.69, no.12
Sub-nm-Topographiemessung mit hochgenauen Autokollimatoren	Ralf D. Geckeler; Andreas Just; Reinhard Probst; Ingolf Weingartner	2002	2002, vol.69, no.12
Taktile dimensioneile Messtechnik fur Komponenten der Mikrosystemtechnik	Uwe Brand	2002	2002, vol.69, no.12
Automatische Bestimmung der Messunsicherheiten auf KMGs auf dem Weg in die industrielle Praxis	Franz Waldele; Heinrich Schwenke	2002	2002, vol.69, no.12
Prufung grossflachig mikrostrukturierter Oberflachen - Herausforderungen durch neue Produktionsverfahren	Tilo Pfeifer; Karsten Schneefuss	2002	2002, vol.69, no.12