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2004, vol.71, no.1	2004, vol.71, no.10	2004, vol.71, no.11	2004, vol.71, no.12	2004, vol.71, no.3	2004, vol.71, no.4
2004, vol.71, no.5	2004, vol.71, no.6	2004, vol.71, no.7-8	2004, vol.71, no.9

题名	作者	出版年	年卷期
Charakterisierung von OLED-Schichten mittels Spektral-Ellipsometrie	Elmar Hartmann	2004	2004, vol.71, no.11
Geometrische normate zur prufung von konturmessgeraten	Michael Neugebauer; Heinz-Joachim Kedziora; Maik Meyer; Raimund Volk; Otto Jusko; Franz Waldele	2004	2004, vol.71, no.11
Entwicklung eines fokussensors und integration in die nanopositionier- und nanomessmaschine	Rostyslav Mastylo; Gerd Jager; Eberhard Manske	2004	2004, vol.71, no.11
Schaumcharakterisierung mit optischen messtechniken und PC-gestutzter bildverarbeitung	Ernst-Christoph Hass; Ralph Ottensmeyer; Arne Wittstock	2004	2004, vol.71, no.11
Online-Analyse mit Lab-on-Chip-Systemen	Sigrun Herrmann; Winfried Vonau	2004	2004, vol.71, no.11