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期刊
ISSN
1537-0755
刊名
Electronic Device Failure Analysis
参考译名
电子设备故障分析
收藏年代
2004～2024
全部
2004
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2021
2022
2023
2024
2004, vol.6, no.1
2004, vol.6, no.2
2004, vol.6, no.3
2004, vol.6, no.4
题名
作者
出版年
年卷期
Focused Ion Beam (FIB) Tunable Circuits
Richard S. Flores
2004
2004, vol.6, no.2
Backside Analysis Using Repackaging Techniques
Jianbai Zhu; Ray Harrison
2004
2004, vol.6, no.2
Performance of Forming Substrate into Solid Immersion Lens (FOSSIL) for Backside Fault Isolation Techniques
Tohru Koyama; Eiji Yoshida; Junko Komori; Yoji Mashiko
2004
2004, vol.6, no.2
Failure analysis challenges
Larry Wagner
2004
2004, vol.6, no.2
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