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期刊


ISSN1537-0755
刊名Electronic Device Failure Analysis
参考译名电子设备故障分析
收藏年代2004～2024



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2004, vol.6, no.1 2004, vol.6, no.2 2004, vol.6, no.3 2004, vol.6, no.4

题名作者出版年年卷期
An Overview of Molecular Computing Approaches (Part I)James C. Lyke20042004, vol.6, no.3
Parametric Failures Can Be a Pain in the BacksideJaume Segura; Charles F. Hawkins; Jerry M. Soden20042004, vol.6, no.3
I/O Interface Latchup Analysis Using Optical and Electrical TestingFranco Stellar; Peilin Song; Moyra K. McManus; Robert Gauthier; Alan J. Weger; Kiran Chatty; Mujahid Muhammad; Pia Sanda20042004, vol.6, no.3
ISTFA 2004-From Vacuum Tubes to NanotubesMatthew L. Thayer20042004, vol.6, no.3



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