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2006, vol.73, no.1	2006, vol.73, no.10	2006, vol.73, no.11	2006, vol.73, no.12	2006, vol.73, no.2	2006, vol.73, no.3
2006, vol.73, no.4	2006, vol.73, no.5	2006, vol.73, no.6	2006, vol.73, no.7-8	2006, vol.73, no.9

题名	作者	出版年	年卷期
Dimensionelle Nanometrologie in der PTB - eine Ubersicht	Harald Bosse; Gunter Wilkening	2006	2006, vol.73, no.1
Entwicklung multifunktionaler Kalibriernormale fur die optische 3D-Mikroskopie	Arne Graper; Arne Kraft; Jorg Seewig; Eduard Reithmeier	2006	2006, vol.73, no.1
Anwendung eines Laser-Speckle-Korrelationsverfahrens zur Messung lokaler Dehnungen in Mikromaterialien	Sebastian C. Schneider; Bernhard Zagar; Peter Zimprich	2006	2006, vol.73, no.1
Bewertung von Nanorauheiten durch Streulichtmessung	Sven Schroder; Angela Duparre; Andreas Tunnermann	2006	2006, vol.73, no.1
Zerstorungsfreie Haftfestigkeitscharakterisierung von Full-Wafer-Bondverbindungen	Martin Rabold; Alexander Doll; Michael Kroner; Peter Woias; Frank Goldschmidtboing	2006	2006, vol.73, no.1
Messung von Mikro-Verzahnungen - Entwicklung multisensorieller Messstrategien in der KMT	Jurgen Fleischer; Ivesa Behrens	2006	2006, vol.73, no.1
Automatische Segmentierung von Messpunktwolken in regelgeometrische Elemente	Engelbert Westkamper; Martin Stotz; Ira Effenberger	2006	2006, vol.73, no.1