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期刊
ISSN
1537-0755
刊名
Electronic Device Failure Analysis
参考译名
电子设备故障分析
收藏年代
2004～2024
全部
2004
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2007
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2021
2022
2023
2024
2007, vol.9, no.1
2007, vol.9, no.2
2007, vol.9, no.3
2007, vol.9, no.4
题名
作者
出版年
年卷期
Useful Technique for Analysis of Fluid-Filled Capacitors
Stan Silvus; Kenneth Cook
2007
2007, vol.9, no.2
Advanced Defect Isolation Utilizing Image Intensity Analysis
James J. Demarest; Derren Dunn; Chad Rue; Yun-Yu Wang
2007
2007, vol.9, no.2
Secondary Electron Potential Contrast in Wide-Bandgap Semiconductors: More Than Just Dopant Profiling with the SEM
Marco Buzzo; Mauro Ciappa; Wolfgang Fichtner
2007
2007, vol.9, no.2
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