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期刊


ISSN0171-8096
刊名Technisches Messen
参考译名技术检测
收藏年代1998～2024



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2008, vol.75, no.1 2008, vol.75, no.10 2008, vol.75, no.11 2008, vol.75, no.12 2008, vol.75, no.2 2008, vol.75, no.3
2008, vol.75, no.4 2008, vol.75, no.5 2008, vol.75, no.6 2008, vol.75, no.7-8 2008, vol.75, no.9

题名作者出版年年卷期
Neue Strategien der Mess- und Pruftechnik fur die Produktion von Mikrosystemen und NanostrukturenAlbert Weckenmann20082008, vol.75, no.5
Trends bei der Entwicklung von Normalen fur die Mikro- und Nanomesstechnik - Herausforderungen und LosungsansatzeAlbert Weckenmann; Thomas Wiedenhofer; Stephanus Buttgenbach; Thomas Krah; Jurgen Fleischer; Ivesa Buchholz; Benjamin Viering; Axel Kranzmann; Martin Ritter; Rolf Kruger-Sehm; Peter Bakucz; Robert Schmitt; Friedel Koerfer20082008, vol.75, no.5
Virtuelle Messgerate - Definition und Stand der EntwicklungRobert Schmitt; Friedel Koerfer; Oliver Sawodny; Jan Zimmermann; Rolf Kruger-Sehm; Min Xu; Thorsten Dziomha; Ludger Koenders; Gert Goch; Andreas Tausendfreund; Stefan Patzelt; Sven Simon; Lars Rockstroh; Carsten Bellon; Andreas Staude; Peter20082008, vol.75, no.5
Tastsysteme fur die Mikro- und Nanomesstechnik - Nanometeraufgeloste OberflachenerfassungJorg Hoffmann20082008, vol.75, no.5
Ruckfuhrbare Koordinatenmesstechnik fur Mikrobauteile - Grundlagen und BeispieleFrank Hartig20082008, vol.75, no.5
Erfassung von Standardgeometrieelementen im Mikrometerbereich - Herausforderungen und LosungsansatzeJurgen Fleischer; Ivesa Buchholz; Jochen Peters; Benjamin Viering; Gert Goch; Stefan Patzelt; Andreas Tausendfreund; Jan Mehner; Wolfram Dotzel; Alexey Shaporin; Ulrich Neuschaefer-Rube; Uwe Hilpert; Sven Simon; Rainer Tutsch; Christian Herbs20082008, vol.75, no.5
Wavelet-Filterung von fraktalen OberflachenPeter Bakucz; Rolf Kruger-Sehm; Sven Schroder; Angela Duparre; Andreas Tunnennann20082008, vol.75, no.5
Fusion multimodaler Daten am Beispiel eines Mikrolinsen-ArraysJohan Regin; Engelbert Westkamper; Sven Schroder; Andreas Tunnermann; Angela Duparre; Martin Ritter; Andreas Staude; Jurgen Goebbels; Axel Kranzmann; Phillip Kramer; Albert Weckenmann; Jan Zimmermann; Oliver Sawodny; Wolfram Lyda; Wolfgang Os20082008, vol.75, no.5
Praxisgerechte Messunsicherheitsermittlung bei Messungen mit dem WeisslichtinterferometerOzgur Tan; Jorg Hoffmann20082008, vol.75, no.5
MicroCal - Software zur geometrischen 3D-Kalibrierung von RastermikroskopenMatthias Hemmleb20082008, vol.75, no.5



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