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期刊
ISSN
1537-0755
刊名
Electronic Device Failure Analysis
参考译名
电子设备故障分析
收藏年代
2004～2024
全部
2004
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2022
2023
2024
2011, vol.13, no.1
2011, vol.13, no.2
2011, vol.13, no.3
2011, vol.13, no.4
题名
作者
出版年
年卷期
Site-Specific Analysis of Advanced Packaging Enabled by Focused Ion Beams
Richard J. Young
2011
2011, vol.13, no.1
Energy-Filtered Transmission Electron Microscopy (EFTEM) of Semiconductor Devices
Sam Subramanian; Gary Clark; Khiem Ly; Tony Chrastecky
2011
2011, vol.13, no.1
Detrimental Effects of Excessive Gold Plating on Lead-Free Solder Joints
Nausha Asrar
2011
2011, vol.13, no.1
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