中国机械工程学会生产工程分会知识服务平台
主页
文献资源
外文期刊
外文会议
中文期刊
专业机构
生产工程
智能制造
高级检索
关于我们
版权声明
使用帮助
期刊
ISSN
1537-0755
刊名
Electronic Device Failure Analysis
参考译名
电子设备故障分析
收藏年代
2004～2024
全部
2004
2005
2006
2007
2008
2009
2010
2011
2012
2013
2014
2015
2016
2017
2018
2019
2020
2021
2022
2023
2024
2015, vol.17, no.1
2015, vol.17, no.2
2015, vol.17, no.3
2015, vol.17, no.4
题名
作者
出版年
年卷期
AUTOMATED HIGH-RESOLUTION IMAGING OF VERY LARGE FIELDS OF VIEW (FOV)
Franco Stellari; Chung-Ching Lin; Peilin Song
2015
2015, vol.17, no.3
A PROCESS FOR THINNING AND POLISHING HIGHLY WARPED DIE TO HIGH SURFACE QUALITY AND CONSISTENT THICKNESS: PART I
Kirk A. Martin
2015
2015, vol.17, no.3
A CASE STUDY OF ENCAPSULATED IC ACCELERATED FAILURE DUE TO THE KIRKENDALL EFFECT ON DOWNHOLE CIRCUITS
John Bescup
2015
2015, vol.17, no.3
EMERGING TECHNIQUES IN ATOMIC FORCE MICROSCOPY: DIAMOND MILLING AND ELECTROSTATIC FORCE MICROSCOPY
Stephen Ippolito; Sean Zumwalt; Andy Erickson
2015
2015, vol.17, no.3
国家科技图书文献中心
全球文献资源网
京ICP备05055788号-26
京公网安备11010202008970号 机械工业信息研究院 2018-2024