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期刊
ISSN
1537-0755
刊名
Electronic Device Failure Analysis
参考译名
电子设备故障分析
收藏年代
2004~2024
全部
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2022
2023
2024
2016, vol.18, no.1
2016, vol.18, no.2
2016, vol.18, no.3
2016, vol.18, no.4
题名
作者
出版年
年卷期
HOW TO DO FAILURE ANALYSIS FOR STRESS CRACKS
David Burgess
2016
2016, vol.18, no.2
SOFT-ERROR SUSCEPTIBILITY OF FinFET SRAMs
Anthony S. Oates; Yi-Pin Fang
2016
2016, vol.18, no.2
ARE TODAY'S TOOLS MEETING FA'S NEEDS?
Philippe Perdu
2016
2016, vol.18, no.2
SENSOFAR RELEASES NEW SURFACE PROFILER
Larry Wagner
2016
2016, vol.18, no.2
KEYSIGHT ANNOUNCES X-SERIES SIGNAL ANALYZERS
Larry Wagner
2016
2016, vol.18, no.2
NANOPOSITIONING CONTROLLER AVAILABLE FROM nPOINT
Liz Marquard
2016
2016, vol.18, no.2
RBD INSTRUMENTS OFFERS AES ANALYZER
Liz Marquard
2016
2016, vol.18, no.2
EM RESOLUTIONS INTRODUCES MAGNIFICATION STANDARDS
Liz Marquard
2016
2016, vol.18, no.2
KEYSIGHT OFFERS ROBUST HANDHELD DMMs
Liz Marquard
2016
2016, vol.18, no.2
KEYSIGHT AFM SYSTEM DELIVERS ULTRAFAST SCAN RATES
Liz Marquard
2016
2016, vol.18, no.2
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