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期刊
ISSN
1537-0755
刊名
Electronic Device Failure Analysis
参考译名
电子设备故障分析
收藏年代
2004~2024
全部
2004
2005
2006
2007
2008
2009
2010
2011
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2014
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2017
2018
2019
2020
2021
2022
2023
2024
2022, vol.24, no.1
2022, vol.24, no.2
题名
作者
出版年
年卷期
ISTFA DURING THE PANDEMIC
Nicholas Antoniou
2022
2022, vol.24, no.1
DETERMINATION OF INDENTER CRACK PROBABILITY ON MULTILAYER STACKS USING AN ACOUSTIC EMISSION TEST METHOD
Marianne Unterreitmeier; Oliver Nagler
2022
2022, vol.24, no.1
OPTIMAL SAMPLING AND RECONSTRUCTION STRATEGIES FOR SCANNING MICROSCOPES
Nigel D. Browning; Daniel Nicholls; Jack Wells; Alex W. Robinson
2022
2022, vol.24, no.1
SIMULTANEOUS LOCAL CAPACITANCE-VOLTAGE PROFILING AND DEEP LEVEL TRANSIENT SPECTROSCOPY USING TIME-RESOLVED SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY
Yasuo Cho
2022
2022, vol.24, no.1
SCANNING NITROGEN VACANCY MAGNETOMETRY: A QUANTUM TECHNOLOGY FOR DEVICE FAILURE ANALYSIS
Peter Rickhaus; Patrick Maletinsky
2022
2022, vol.24, no.1
ISTFA/2021 ISTFA 2021 HIGHLIGHTS
Susan Li
2022
2022, vol.24, no.1
A SUMMARY OF THE ISTFA 2021 PANEL DISCUSSION: OVERCOMING THE CHALLENGES IN SYSTEM-IN-PACKAGE FAILURE ANALYSIS
Yan Li; Randy Mulder; Greg Johnson
2022
2022, vol.24, no.1
ISTFA 2021 USER GROUP HIGHLIGHTS
Anita Madan; Daminda Dahanayaka
2022
2022, vol.24, no.1
ISTFA 2021 SAMPLE PREP USER GROUP
Jim Colvin; Cecile Bonifacio; Kah Chin Cheong; Nathan Bakken
2022
2022, vol.24, no.1
ISTFA 2021 SYSTEM ON PACKAGE USER GROUP
Lihong Cao; Kevin Distelhurst; Wentao Qin
2022
2022, vol.24, no.1
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