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期刊
ISSN
0913-5685
刊名
電子情報通信学会技術研究報告
参考译名
电子信息通信学会技术研究报告:可靠性
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题名
作者
出版年
年卷期
Modeling the Effective Capacitance of Interconnect Loads for Predicting CMOS Gate Slew
Zhangcai HUANG; Atsushi KUROKAWA; Yasuaki INOUE
2005
2005, vol.105, no.276
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