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期刊
ISSN
0913-5685
刊名
電子情報通信学会技術研究報告
参考译名
电子信息通信学会技术研究报告:可靠性
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2012, vol.112, no.92
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2012, vol.112, no.96
2012, vol.112, no.98
2012, vol.112, no.99
题名
作者
出版年
年卷期
随伴変数法に基づくトポロジー最適化によるパワーデバイスの新設計手法
野村勝也; 近藤継男; 石川剛; 川本敦史; 松森唯益; 杉山隆英
2012
2012, vol.112, no.290
2012 SISPADレビュー~量子輸送,新材料,原子·分子モデリング,その他
鎌倉良成
2012
2012, vol.112, no.290
高周波帯域雑音計測プローブによるMOSFETの時間揺らぎ特性評価-1/f(低周波)から熱雑音(100 MHz超)まで
大毛利健治
2012
2012, vol.112, no.290
ランダム·テレグラフ·ノイズを引き起こす欠陥の種類とその特性
陳杰智; 平野泉; 辰村光介; 三谷祐一郎
2012
2012, vol.112, no.290
20nm以細MOSFETの実効移動度モデルの反転層電荷閉じ込めを考慮した評価
山本真大; 廣木彰; 尹鍾鐵
2012
2012, vol.112, no.290
低エネルギーLSI応用に向けたXCT-SOI CMOSの微細化指針に関する検討
佐藤大貴; 大村泰久
2012
2012, vol.112, no.290
経験的擬ポテンシャル法による4H-SiC MOS反転層の2次元電子状態の計算
渡邊龍太; 鎌倉良成
2012
2012, vol.112, no.290
離散不純物がナノワイヤトランジスタの電流電圧特性に及ぼす影響KMCとNEGFによる研究
森伸也; 植松真司; 三成英樹; ミリニコフゲナディ; 伊藤公平
2012
2012, vol.112, no.290
立体構造シリコン中の熱輸送に関する分子動力学シミュレーション
図師知文; 大毛利健治; 山田啓作; 渡邉孝信
2012
2012, vol.112, no.290
現実的分散モデルを用いたSi薄膜中のフォノン輸送モンテカルロシミュレーション
久木田健太郎; 鎌倉良成
2012
2012, vol.112, no.290
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