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期刊
ISSN
0913-5685
刊名
電子情報通信学会技術研究報告
参考译名
电子信息通信学会技术研究报告:可靠性
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2010, vol.110, no.90
2010, vol.110, no.91
2010, vol.110, no.96
2010, vol.110, no.98
2010, vol.110, no.99
题名
作者
出版年
年卷期
錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定
増井壮志; 澤田滋; 玉井輝雄; 服部康弘; 飯田和生
2010
2010, vol.110, no.403
錫めっき接点の形状と荷重に関する微摺動特性
田井富茂; 古本哲也
2010
2010, vol.110, no.403
錫めっき摺動接点の三次元微細構造
伊藤哲也; 荻原茂; 服部康弘
2010
2010, vol.110, no.403
印刷銀配線板におけるイオンマイグレーション抑制におよぼす樹脂-クレイハイブリッド化合物の効果
大谷泰之; 中島伸一郎
2010
2010, vol.110, no.403
炭素アーク電圧電流特性に関する一考察
須原啓一
2010
2010, vol.110, no.403
同軸マルチコアPOFを用いた光回転リンクジョイントの構成法に関する研究
蒲和也; 川島信; 川端俊介; 佐生誠司
2010
2010, vol.110, no.403
タッピング·デバイスによる電気接点の劣化現象-タッピング·デバイスの試作(1)
和田真一; 越田圭治; サインダー ノロブリン; 川述真裕; 石塚大貴; 柳国男; 小田部正能; 久保田洋彰; 久我宣裕; 澤孝一郎
2010
2010, vol.110, no.403
タッピング·デバイスによる電気接点の劣化現象-タッピング·デバイスの試作(2)
越田圭治; 和田真一; サインダー ノロブリン; 川述真裕; 小田部正能; 久保田洋彰; 久我宣裕; 澤孝一郎
2010
2010, vol.110, no.403
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