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期刊


ISSN0913-5685
刊名電子情報通信学会技術研究報告
参考译名电子信息通信学会技术研究报告：可靠性
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题名作者出版年年卷期
Current Intermittency in SOI-FETs under Light IlluminationArief UDHIARTO; Daniel MORARU; Ryusuke NAKAMURA; Takeshi MIZUNO; Michiharu TABE20102010, vol.110, no.424
Single-Electron Transfer between Two Donors in Thin Nanoscale Silicon TransistorsDaniel MORARU; Earfan HAMID; Mi Cha TARIDO; Sakito MIKI; Ryusuke NAKAMURA; Takeshi MIZUNO; Michiharu TABE20102010, vol.110, no.424
単電子ポンプ動作を利用した半導体冷却デバイスの研究池田浩也; ファイズサレ20102010, vol.110, no.424
シリサイド系太陽電池及びスピントロニクスを目指して末益崇; 齋藤隆允; 岡田淳史; 藤克昭; M. Ajmal Kahn; Du Weijie; 眞壁健司; 伊藤啓太; 原田一範; 宇佐美徳隆20102010, vol.110, no.424
Si単電子トランジスタにおける光照射による単一キャリアトラップ生成と電気伝導特性篠原迪人; 加藤勇樹; 三上圭; 有田正志; 藤原聡; 高橋庸夫20102010, vol.110, no.424
共鳴トンネルダイオードペアを装荷した右手／左手系複合伝送線路における信号増幅前澤宏一; 笠原康司; 潘杰; 森雅之20102010, vol.110, no.424
単一電子を利用した確率共鳴西口克彦; 藤原聡20102010, vol.110, no.424
ショットキーラップゲート制御GaAsナノワイヤCCDの試作と電荷転送動作の検討中野雄紀; 三浦健輔; 白鳥悠太; 葛西誠也20102010, vol.110, no.424
量子ドットと並列ネットワークにおける単電子確率共鳴葛西誠也; 白鳥悠太; 三浦健輔; 中野雄紀20102010, vol.110, no.424
FinFET高周波特性の高精度評価に関する研究坂井秀男; 大内真一; 松川貴; 遠藤和彦; 柳永勲; 塚田順一; 石川由紀; 中川格; 関川敏弘; 小池帆平; 坂本邦博; 昌原明植; 石黒仁揮20102010, vol.110, no.424
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