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期刊


ISSN0913-5685
刊名電子情報通信学会技術研究報告
参考译名电子信息通信学会技术研究报告:可靠性
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题名作者出版年年卷期
MOSFETコンパクトモデルと今後の展開-バルクMOSFETからマルチゲートMOSFETに向けて三浦道子; 三宅正尭; 上口光; 楠隼太; 石村健太; 菊地原秀行20092009, vol.109, no.278
2009 SISPADレビュー田中克彦20092009, vol.109, no.278
2009 SISPADレビュー(2)小川真人20092009, vol.109, no.278
表面ポテンシャルを用いた薄膜トランジスタのドレイン電流モデル辻博史; 鎌倉良成; 谷口研二20092009, vol.109, no.278
回路シミュレーション用IGBTモデル"HiSIM-IGBT"三宅正尭; 舛岡弘基; フェルトマン·ウヴェ; 三浦道子20092009, vol.109, no.278
MEMS等価回路ジェネレータの開発藤原信代; 浅海和雄; 小池智之; 土屋智由; 橋口原20092009, vol.109, no.278
CMOSバイオセンサ応用のためのデバイスモデリングとシミュレーション宇野重康; 中里和郎20092009, vol.109, no.278
自己発熱効果がナノスケールトランジスタの電気特性に与える影響鎌倉良成; 森伸也; 谷口研二20092009, vol.109, no.278
原子論モデルにおけるR行列量子輸送シミュレーションミリニコフゲナディ; 森伸也; 鎌倉良成20092009, vol.109, no.278
フルバンド·デバイスシミュレーションによる歪みSiGe/Si-pMOSFETのキャリア輸送特性解析竹田裕; 河田道人; 竹内潔; 羽根正巳20092009, vol.109, no.278
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